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| 品牌 | LNEYA/无锡冠亚 | 冷却方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 价格区间 | 10万-50万 | 产地类别 | 国产 |
| 仪器种类 | 一体式 | 应用领域 | 化工,生物产业,电子,制药,汽车 |
主要产品包括半导体专⽤温控设备、射流式⾼低温冲击测试机和半导体⽤⼯艺废⽓处理装置等⽤设备，
⼴泛应⽤于半导体、LED、LCD、太阳能光伏等领域。
半导体专温控设备
射流式⾼低温冲击测试机
半导体专用温控设备chiller
Chiller气体降温控温系统
Chiller直冷型
循环风控温装置
半导体⾼低温测试设备
电⼦设备⾼温低温恒温测试冷热源
射流式高低温冲击测试机
快速温变控温卡盘
数据中心液冷解决方案
| 型号 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 温度范围 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控温精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 内循环液容积 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨胀罐容积 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷剂 | R410A | ||||||
| 载冷剂 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI温度需要控制10℃以上） | ||||||
| 进出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷却水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷却水流量at20℃ | 1.5m³/h | 2m³/h | 2.5m³/h | 4m³/h | 4.5m³/h | 5.6m³/h | 9m³/h |
| 电源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 温度扩展 | 通过增加电加热器，扩展-25℃～80℃ | ||||||
-80℃射流高低温冲击测试机 循环风控温装置
-80℃射流高低温冲击测试机 循环风控温装置
射流式高低温冲击测试机给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供精确且快速的环境温度。
是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估的仪器设备。
温度控制范围：-120℃ 至+300℃，升降温速率⾮常快速，150℃〜-55℃＜10秒，zui⼤⽓流量：30m³/h；
实时监控被测IC真实温度,实现闭环反馈，实时调整⽓体温度升降温时间可控，程序化操作、⼿动操作、远程控制
冷热循环冲击测试机是用于测试集成电路在不同温度下的性能和稳定性的设备，在选购冷热循环冲击测试机时，需要考虑以下几个方面：
1、测试温度范围：根据需要测试的集成电路的类型和规格，确定所需的测试温度范围。一般来说，冷热循环冲击测试机的温度范围应该在-120℃到200℃之间，以满足大多数半导体的测试需求。
2、温度稳定性：温度稳定性是测试系统的重要指标之一。冷热循环冲击测试机的温度稳定性应该足够高，以保证测试结果的准确性和可靠性。一般来说，温度波动范围应该在±1℃以内。
3、测试速度：测试速度也是需要考虑的因素之一。冷热循环冲击测试机的测试速度应该足够快，以减少测试时间和提升效率。一般来说，冷热循环冲击测试机测试速度应该在每小时测试数百个样品以上。
4、测试精度：冷热循环冲击测试机的测试精度应该足够高，以保证测试结果的准确性和可靠性。一般来说，测试误差应该在±1℃以内。
