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高低温冲击系统测试仪工作原理

简要描述:无锡冠亚射流式高低温冲击测试机给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供快速的环境温度。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估*的仪器设备。广泛应用于半导体企业、航空航天、光通讯、高校、研究所等领域。高低温冲击系统测试仪工作原理

  • 产品型号:AES-4535
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-01-06
  • 访  问  量:785
详情介绍
品牌 LNEYA/无锡冠亚 价格区间 5万-10万
产地类别 国产 应用领域 医疗卫生,化工,生物产业,石油,航天

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片温度冲击测试机清洁保养</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

无锡冠亚射流式高低温冲击测试机

给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供快速的环境温度。

是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估*的仪器设备。

广泛应用于半导体企业、航空航天、光通讯、高校、研究所等领域。

 

 

 型号 AES-4535
 AES-4535W
AES-6035
 AES-6035W
AES-8035
 AES-8035W
AES-A1035W AES-A1235W
温度范围 -45℃~225℃ -60℃~225℃ -80℃~225℃ -100℃~225℃ -120℃~225℃
加热功率 3.5kW 3.5kW 3.5kW 4.5kW 4.5kW
制冷量 AT -45℃ 2.5kW        
AT -60℃   2kW      
AT -80℃     1.5kW    
AT -100℃       1.2kW  
AT -120℃         1.2kW
温控精度 ±1℃ ±1℃ ±1℃ ±1℃ ±1℃
温度转换时间 -25℃ to 150℃ 约10S
150℃to  -25℃
约20s
-45℃ to 150℃ 约10S
150℃to  -45℃
约20s
-55℃ to 150℃ 约10S
150℃to  -55℃
约15s
-70℃ to 150℃ 约10S
150℃to  -70℃
约20s
-80℃ to 150℃ 约11S
150℃to  -80℃
约20s
空气要求 空气滤清器<5um
空气含油量:<0.1ppm
空气温湿度:5℃~32℃  0~50%RH
空气处理能力 7m³/h ~ 25m³/h  压力5bar~7.6bar
系统压力显示 制冷系统压力采用指针式压力表实现(高压、低压)
循环系统压力采用压力传感器检测显示在触摸屏上
控制器 西门子PLC,模糊PID控制算法
温度控制 控制出风口温度
可编程 可编制10条程序,每条程序可编制10段步骤
通信协议 以太网接口TCP/IP协议
设备内部温度反馈 设备出口温度、制冷系统冷凝温度、环境温度、压缩机吸气温度、冷却水温度(水冷设备有)
温度反馈 T型温度传感器
压缩机 法国泰康 法国泰康 法国泰康 意大利都凌 意大利都凌
蒸发器 套管式换热器
加热器 法兰式桶状加热器
制冷附件 丹佛斯/艾默生配件(干燥过滤器、油分离器、高低压保护器、膨胀阀、电磁阀)
操作面板 无锡冠亚定制7英寸彩色触摸屏,温度曲线显示EXCEL 数据导出
安全防护 具有自我诊断功能;相序断相保护器、冷冻机过载保护;高压压力开关,过载继电器、热保护装置等多种安全保障功能。
制冷剂 冠亚混合制冷剂
外接保温软管 方便外送保温软管1.8m DN32快接卡箍
外型尺寸(风)cm 45*85*130 55*95*170 70*100*175 80*120*185 100*150*185
外型尺寸(水)cm 45*85*130 45*85*130 55*95*170 70*100*175 80*120*185
风冷型 采用铜管铝翅片冷凝方式,上出风型式,冷凝风机采用德国EBM轴流风机
水冷型 W 带W型号为水冷型
水冷冷凝器 套管式换热器(帕丽斯/沈氏 )
冷却水量 at 25℃ 0.6m³/h 1.5m³/h 2.6m³/h 3.6m³/h 7m³/h
电源 380V 50HZ 4.5kW max 6.8kW max 9.2kW max 12.5kW max 16.5kW max
电源 可定制460V 60HZ、220V 60HZ 三相
外壳材质 冷轧板喷塑 (标准颜色7035)
温度扩展 高温到 +300℃

 

 

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片温度冲击测试机清洁保养</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片温度冲击测试机清洁保养</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片温度冲击测试机清洁保养</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片温度冲击测试机清洁保养</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong> 

高低温冲击系统测试仪工作原理

高低温冲击系统测试仪工作原理

  【适用范围】

  无锡冠亚AES系列高低温冲击系统测试仪适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯(如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。

  【工作原理】

  1、高低温冲击系统测试仪试验机输出气流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验;

  2、可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快。

  【选购要点】

  选购冷热冲击试验箱要注意五个方面:冲击温度、试验负载、复归时间、除霜时间、放置位置。

  冲击温度:是指测试区实际能够跑到的温度 范围。注意不是预热和预冷室的温度;

  试验负载:直接影响能够放置多少测试品。一般说来,这个重量越大越好;

  复归时间:它是指测试品全部从一个温度点切换到另外一个温度点所耗费的时间;

  除霜间隔时间越长越好。现在有些厂家能够做到1000cycles除霜一次,是非常适合的。除霜间隔越短说明该设备的气密性越差;

sensor必须放置在测试区内部。有些厂家将sensor放置在风道内部,虽然与测试区只有10cm的距离,但是这个能量差异是相当大的。且不能够真实反映测试品表面的温度变化。

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