半导体模块Chiller,芯片高低温测试

简要描述：半导体模块Chiller,芯片高低温测试的典型应用：
适合元器件测试用设备，在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中，IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度（-85℃至+ 250℃）下的电子冷热测试和其他环境测试模拟。

产品型号：TES-4555
厂商性质：生产厂家
更新时间：2024-01-01
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详情介绍

品牌	LNEYA/无锡冠亚	产地类别	国产
应用领域	石油,能源,电子,汽车,电气

元器件测试用设备

适合元器件测试用设备

在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中，IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度（-85℃至+ 250℃）下的电子冷热测试和其他环境测试模拟。

元器件测试用设备

无锡冠亚积探索和研究元件测试系统，主要用于半导体测试中的温度测试模拟，具有宽温度定向和高温升降，温度范围-92℃~250℃，适合各种测试要求，解决了电子元器件中温度控制滞后的问题，超高温冷却技术可以直接从300℃冷却。

型号		KRY-455 KRY-455W	KRY-475 KRY-475W	KRY-4A10 KRY-4A10W	KRY-4A15 KRY-4A15W	KRY-4A25 KRY-4A25W	KRY-4A38W	KRY-4A60W

温度范围		-40℃～+100℃
控温精度		±0.5℃
温度反馈		Pt100
温度显示		0.01k
流量输出		1～10L/min	1～25L/min	1～25L/min	1～40L/min	1～40L/min	5～50L/min	5～50L/min
关于流量说明		/	当温度低于-30度时，大流量为25L/min			当温度低于-30度时，大流量为30L/min
流量控制精度		±0.2L/min	±0.2L/min	±0.2L/min	±0.2L/min	±0.2L/min	±0.2L/min	±0.2L/min
压力显示		采用江森自控压力传感器，触摸屏上显示压力,可进行压力控制调节
加热功率		5.5kW	7.5kW	10kW	10kW 选配15kW	15kW 选配25kW	25kW 选配38kW	38kW 选配60kW
制冷量	100℃	5.5kW	7.5kW	10kW	15kW	25kW	38kW	60kW
	20℃	5.5kW	7.5kW	10kW	15kW	25kW	38kW	60kW
	0℃	5.5kW	7.5kW	10kW	15kW	25kW	38kW	60kW
	-20℃	2.8kW	4.5kW	6kW	10kW	16kW	25kW	35kW
	-35℃	1.2kW	1.8kW	2.5kW	4kW	6.5kW	10kW	15kW
压缩机		艾默生谷轮涡旋柔性压缩机
膨胀阀		艾默生/丹佛斯热力膨胀阀
油分离器		艾默生
干燥过滤器		艾默生/丹佛斯
蒸发器		丹佛斯/高力板式换热器
输入、显示		7寸彩色触摸屏西门子S7-1200 PLC控制器
程序编辑		可编制10条程序，每条程序可编制40段步骤
通信		CAN通信总线
安全保护		具有自我诊断功能；冷冻机过载保护；高压压力开关，过载继电器、热保护装置、低液位保护、高温保护、传感器故障保护等多种安全保障功能
是否为全密闭系统		整个系统为全密闭系统，高温时不会有油雾、低温不吸收空气中水份，系统在运行中不会因为高温使压力上升，低温自动补充导热介质。
制冷剂		R404A/R507C
接口尺寸		G3/4	G3/4	G3/4	G3/4	G3/4	G3/4	G3/4
水冷型at25度		1100L/H	1500L/H	2000L/H	2800L/H	4500L/H	7000L/H	12000L/H
水冷冷凝器		帕丽斯/沈氏套管式换热器
风冷型冷凝器		铜管铝翅片换热器（上出风形式）
电源 380V50HZ		12kW max	15kW max	20kW max	29kW max	42kW max	58kW max	84kW max
水冷尺寸cm		5595175	5595175	5595175	70100175	80120185	100150185	145205205
风冷尺寸cm		5595175	5595175	70100175	80120185	100150185
重量		250kg	280kg	320kg	360kg	620kg	890kg	1300kg
选配		220V 60HZ三相 400V 50HZ三相 440V 60HZ三相
选配		温度扩展到-40℃～+135℃
选配		更高精度控制温度、流量、压力
选配		自动加注防冻液系统
选配		自动液体回收系统

半导体模块Chiller,芯片高低温测试

　　芯片成品测试（Final Test，也称终测），集成电路后道工序的划片、键合、封装及老化过程中都会损坏部分电路，所以在封装、老化以后要按照测试规范对电路成品进行电路性能检测，目的是挑选出合格的成品，根据器件性能的参数指标分，同时记录各的器件数和各种参数的统计分布情况；根据这些数据和信息，质量管理部门监督产品的质量，生产管理部门控制电路的生产。

IC测试是确保产品良率和成本控制的重要环节，在IC生产过程中起着举足轻重的作用。IC测试是集成电路生产过程中的重要环节，测试的主要目的是保证芯片在恶劣环境下能*实现设计规格书所规定的功能及性能指标，每一道测试都会产生一系列的测试数据，由于测试程序通常是由一系列测试项目组成的，从各个方面对芯片进行充分检测，不仅可以判断芯片性能是否符合标准，是否可以进入市场，而且能够从测试结果的详细数据中充分、定量地反映出每颗芯片从结构、功能到电气特性的各种指标。因此，对集成电路进行测试可有效提高芯片的成品率以及生产效率。

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