品牌 | LNEYA/无锡冠亚 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 化工,石油,能源 |
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冠亚—恒温制冷加热控温循环设备
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一、半导体高低温测试设备背景
半导体高低温测试设备应用于半导体、芯片等元器件在-85~200℃的范围内进行不同温度段的温度测试。
在元器件行业中,对各种半导体、芯片的要求比较高,特别需要测试在不同环境下元器件的性能状况以及在封装组装生产下不同的温度测试以及其他性能测试,以免在元器件这类的电子产品在进入生产之后实际投放市场面对各种不同寻常的环境导致电子元器件不可用。
二、半导体高低温测试设备的作用
半导体高低温测试设备在元器件、集成电路、模块、PCB、装配等应用上进行高低温循环测试、高低温温度冲击测试,失效分析等可靠性测试。除了半导体高低温测试设备还可称为热流仪、冷热气流冲击机、冷热循环冲击装置、高低温气流循环系统等。
半导体高低温测试设备应用于半导体、芯片等元器件在-85~200℃的范围内进行不同温度段的温度测试。
半导体高低温测试设备应用于半导体、芯片等元器件在-85~200℃的范围内进行不同温度段的温度测试。