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半导体高低温测试机典型应用介绍

 更新时间:2023-03-03 点击量: 643

  半导体高低温测试机也称为气体新利18提现 、高低温冲击气流仪、热流仪等,采用流体温度控制技术,在元器件半导体行业进行各种温度测试模拟应用,控温范围-92~250℃,具有宽的温度方向和高温升降,适用于各种测试要求。

  新利体育官网登录入口 半导体高低温测试机适用于电子元件的准确温度控制,在用于恶劣环境的半导体电子组件制造中,IC封装组装、工程和生产测试阶段包括电子热测试和其他温度(-45℃至+250℃)下的环境测试模拟。一旦投入实际使用,这些半导体器件和电子产品可以暴露在严苛的环境条件下,以满足苛刻的可靠性标准。

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  一、高精度新利18提现

  温度控制范围:-85~+250

  温度控制精度:±0.3

  应用领域:研究院、航空航天、半导体和电气工业、大学、新材料工业、IC芯片测试、电路板、元器件测试等领域。

  温度范围以及型号:

  TES-45℃~250℃:TES-4525TES-4525WTES-4555TES-4555W

  TES-85℃~200℃:TES-8525WTES-8555W

  TES-60℃~200℃:TES-6A15WPEXTES-6A15WDEXTES-6A25WPEXTES-6A25WDEXTES-6A45WPEXTES-6A45WDEXTES-6A60WPEXTES-6A60WDEX

  二、氟化液新利18提现

  温度控制范围:-80~+80

  温度控制精度:±0.1

  应用于半导体和电气工业、新材料工业、IC芯片测试、电路板、元器件测试等领域。

  温度范围以及型号:

  LTS-20℃~80 LTS-202LTS-202WLTS-203WLTS-204WLTS-206W LTS-203LTS-204 LTS-206 LTS-208LTS-208W

  LTS-40℃~80 LTS-402LTS-403 LTS-404 LTS-406 LTS-408LTS-402W LTS-403W LTS-404W LTS-406W LTS-408W

  LTS-60℃~80 LTS-602 LTS-603 LTS-604 LTS-606 LTS-608LTS-602W LTS-603W LTS-604W LTS-606W LTS-608W

  LTS-80℃~80℃:LTS-802 LTS-803 LTS-804 LTS-806 LTS-808LTS-802W LTS-803W LTS-804W LTS-806W LTS-808W

  三、高低温冲击测试机

  温度控制范围:-115~+225

  温度控制精度:±0.5

  射流式高低温冲击测试机给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供准确且快速的环境温度。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估的仪器设备。

温度范围以及型号:

  -45℃~225℃:AES-4535AES-4535W

  -60℃~225℃:AES-6035

  -80℃~225℃:AES-8035W

  -100℃~225℃: AES-A1035W

  -115℃~225℃:AES-A1235W

  四、AI循环风控制系统

  温度控制范围:-105~+125

  温度控制精度:±0.2

应用于半导体设备高低温测试;电子设备高温、低温、恒温测试冷热源;独立的制冷循环风机组;可连续长时间工作,自动除霜,除霜过程不影响库温。

温度范围以及型号:

  -65℃~+125℃:AI-6535AI-6535W

  -80℃~+125℃:AI-8035W

  -105℃~+125℃:AI-1055W

  五、小型气体制冷机

  温度控制范围:-110~-40

  应用于将无腐蚀性气体降温使用,如干燥压缩空气、氮气、氩气等常温气体通入到LQ系列设备内部,出来的气体即可达到目标低温温度,供给需求测试的元件或者换热器中。


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