芯片高低温老化测试箱控制器四种故障分析

　　芯片高低温老化测试箱的所有运行进程都是有控制器输入完成的，如果控制器出现故障，会造成试验失败，严重的还会出现设备损坏，所以就芯片高低温老化测试箱控制器有可能出现的四种故障我们需要有一定的了解。

 

　　分析温度控制仪表系统故障时，要注意两点：该系统仪表多采用电动仪表测量、指示、控制；该系统仪表的测量往往滞后较大。

　　温度控制仪表系统指示出现快速振荡现象，多为控制参数PID调整不当造成。温度仪表系统的指示值突然变到或小，一般为仪表系统故障。因为温度仪表系统测量滞后较大，不会发生突然变化。此时的故障原因多是热电偶、热电阻、补偿导线断线或变送器放大器失灵造成。

　　温度控制系统本身的故障分析步骤：检查调节阀输入信号是否变化，输入信号不变化，调节阀动作，调节阀膜头膜片漏了；检查调节阀定位器输入信号是否变化，输入信号不变化，输出信号变化，定位器有故障；检查定位器输入信号有变化，再查调节器输出有无变化，如果调节器输入不变化，输出变化，此时是调节器本身的故障。

　　温度控制仪表系统指示出现大幅缓慢的波动，很可能是由于工艺操作变化引起的，如当时工艺操作没有变化，则很可能是仪表控制系统本身的故障。