芯片测试装置在运行前需要了解其相关测试知识,那么,关于无锡冠亚芯片测试装置的相关测试大家了解多少呢?
芯片测试装置电位器的好坏判别,先测电位器的标称阻值。用万用表的欧姆挡测“1”、“3”两端(设“2”端为活动触点),其读数应为电位器的标称值,如万用表的指针不动、阻值不动或阻值相差很多,则表明该电位器已损坏。再检查电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好。用万用表的欧姆挡测“1”、“2”或“2”、“3”两端,将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近“关”的位置,此时电阻应越小越好,再徐徐顺时钟旋转轴柄,电阻应逐渐增大,旋至上端位置时,阻值应接近电位器的标称值。
测量大容量电容的漏电电阻,用500型万用表置于R×10或R×100挡,待指针指向较大值时,再立即改用R×1k挡测量,指针会在较短时间内稳定,从而读出漏电电阻阻值。
判别红外接收头引脚,万用表置R×1k挡,先假设接收头的某脚为接地端,将其与黑表笔相接,用红表笔分别测量另两脚电阻,对比两次所测阻值(一般在4~7k Q范围),电阻较小的一次其红表笔所接为+5V电源引脚,另一阻值较大的则为信号引脚。反之,若用红表笔接已知地脚,黑表笔分别测已知电源脚及信号脚,则阻值都在15kΩ以上,阻值小的引脚为+5V端,阻值偏大的引脚为信号端。如果测量结果符合上述阻值则可判断该接收头完好。
判断无符号电解电容性,先将电容短路放电,再将两引线做好A、B标记,万用表置R×100或R×1k挡,黑表笔接A引线,红表笔接B引线,待指针静止不动后读数,测完后短路放电;再将黑表笔接B引线,红表笔接A引线,比较两次读数,阻值较大的一次黑表笔所接为正,红表笔所接为负。
芯片测试装置在了解其相关测试之后,在运行中多多注意其保养工作,更好的运行芯片测试装置。(本文来源网络,如有侵权请联系无锡冠亚删除,谢谢。)